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塞貝克系數(shù)電阻測試儀先進(jìn)功能材料電測綜合測試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電多通道極化裝置鐵電分析儀高壓功率放大器絕緣電阻率測試儀高低溫冷熱臺(tái)測試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測試儀電壓擊穿測定儀耐電弧試驗(yàn)儀探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀多通道介電與電阻測試系統(tǒng)

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HCDH-300PLC+觸屏低壓漏電起痕試驗(yàn)儀/測試儀器

更新時(shí)間：2024-08-26

型號(hào)：HCDH-300

瀏覽量：1669

PLC+觸屏低壓漏電起痕試驗(yàn)儀/測試儀器，（耐電痕化指數(shù)儀）是在固體絕緣材料表面上，在規(guī)定尺寸的鉑電極之間，施加某一電壓并定時(shí)定高度滴下規(guī)定液滴體積的污染液，用以評(píng)價(jià)固體絕緣材料在電場和污染液介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐受能力，測定其相比電痕化指數(shù)和耐電痕指數(shù)。
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HCLD-3產(chǎn)品*可靠漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HCLD-3

瀏覽量：1501

產(chǎn)品*可靠漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器HCLD-III為華測公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一，高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術(shù)，使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確，同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置，使儀器。
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HCLD-3產(chǎn)品*漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器

更新時(shí)間：2023-08-29

型號(hào)：HCLD-3

瀏覽量：1590

產(chǎn)品*漏電起痕試驗(yàn)機(jī)測試儀器HCLD-III為華測公司2013年重點(diǎn)科研產(chǎn)品之一，高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)精度高，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術(shù)，使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確，同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置，使儀器。
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HCLD-III固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCLD-III

瀏覽量：1393

固體絕緣材料漏電起痕試驗(yàn)機(jī)，測試儀器HCLD-III適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測量評(píng)定環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。
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HCLD-III電氣絕緣材料漏電起痕測試儀

更新時(shí)間：2024-06-13

型號(hào)：HCLD-III

瀏覽量：1577

電氣絕緣材料漏電起痕測試儀，HCLD-III適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測量評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。本機(jī)是嚴(yán)格按照GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設(shè)計(jì)制造。
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